鍍層測厚儀一般是由兩個鐳射位移感測器上下對射的方式組成的│▩₪，上下的兩個感測器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置│▩₪，透過計算得到被測體的厚度·│◕│✘。鍍層測厚儀的優點在於它採用的是非接觸的測量│▩₪，相對接觸式測厚儀更精準│▩₪，不會因為磨損而損失精度·│◕│✘。相對超聲波測厚儀精度更高·│◕│✘。相對X射線測厚儀沒有輻射汙染·│◕│✘。
鍍層測厚儀是基於三角測距原理│▩₪，使用整合式的三角測距感測器測量出從安裝支架到物體表面的距離│▩₪，進而根據支架的固定距離計算得出物體的厚度·│◕│✘。
鐳射束在被測物體表面上形成一個很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產生探測其敏感面上光斑位置的電訊號·│◕│✘。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變,相應地其像點在光敏器件上的位置也要發生變化,進而可計算出被測物體的實際移動距離·│◕│✘。
兩個鐳射位移感測器的鐳射對射│▩₪，被測體放置在對射區域內│▩₪，根據測量被測體上表面和下表面的距離│▩₪，計算出被測體的厚度·│◕│✘。
鍍層測厚儀的基本組成是鐳射器₪◕、成像物鏡₪◕、光電位敏接收器₪◕、訊號處理機測量結果顯示系統·│◕│✘。鐳射束在被測物體表面上形成一個亮的光斑│▩₪，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上│▩₪，產生探測其敏感面上光斑位置的電訊號·│◕│✘。當被測物體移動時│▩₪，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變│▩₪，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化│▩₪，兩者之間的關係✘▩◕│◕：
測厚計算公式
式中✘▩◕│◕：
X₪◕、X`——分別是被測物位移和光敏器件上像斑的位移；
L₪◕、L`₪◕、α——是系統的結構引數,是根據具體使用要求而選定的·│◕│✘。
由此可見精確地測量X`就可以得到被測物體的位移量│▩₪，這就是三角法測量位移的原理·│◕│✘。
