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反射式膜厚測量儀

A3-SR-100S系列反射式膜厚測量儀可用於測量半導體鍍膜•◕☁，手機觸控式螢幕ITO等鍍膜厚度•◕☁，PET柔性塗布的膠厚等厚度•◕☁，LED鍍膜厚度•◕☁，建築玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合▩☁▩✘。A3-SR-100S可用於測量2奈米到3000微米的膜厚•◕☁，測量精度達到0.1奈米▩☁▩✘。在折射率未知的情況下•◕☁，A3-SR-100S還可用於同時對摺射率和膜厚進行測量▩☁▩✘。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

此外•◕☁，A3-SR-100S還可用於測量樣品的顏色和反射率▩☁▩✘。樣品光斑在1毫米以內▩☁▩✘。A3-SR進行測量簡單可靠•◕☁，實際測量取樣時間低於1秒▩☁▩✘。配合我們的Apris SpectraSys 軟體進行手動測量•◕☁，每次測量時間低於5秒▩☁▩✘。Apris SpectraSys支援50層膜以內的模型並可對多層膜厚引數進行測量▩☁▩✘。Apris SpectraSys 軟體還擁有近千種材料的材料資料庫•◕☁，同時支援函式型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型▩☁▩✘。

同時•◕☁，客戶還可以透過軟體自帶資料庫對材料•◕☁，選單進行管理並回溯檢查測量結果▩☁▩✘。目標應用│•：半導體鍍膜,光刻膠玻璃減反膜測量藍寶石鍍膜,光刻膠ITO 玻璃太陽能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚•◕☁，顏色測量卷對卷柔性塗布光學膜其他需要測量膜厚的場合

反射式膜厚測量儀

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